KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度测量仪 返回列表页

走在前端 以较低的价格

KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度测量仪现在可以很容易地测量曲面样品，包括眼镜和其他光学镜片的防反射涂层, 仅需其他设备一小部分的的价格就能在几秒内得到精确的色彩读值和反射率测量. 您也可选择升级薄膜厚度测量软件, 操作上并不需要严格的训练, 您甚至可以直觉的藉由设定任何波长范围最大, 最小和平均值.去定义颜色和反射率的合格标准.

容易设定. 易於维护

只需将KLA Filmetrics F10-ARc薄膜厚度测量仪插上到您计算机的USB端口, 感谢Filmetrics的创新, F10-ARc几乎不存在停机时间, 加上40,000小时寿命的光源和自动板上波长校准，你不需担心维护问题。

获得精确的测量.

• 自动基准功能大大增加基准间隔时间, 量测准确性优於其他光纤探头反射测量系统5倍

• 可选择UPG - F10-AR - HC软件升级 测量0.25-15μm硬涂层的厚度. 即使在防反射涂层存在时仍可测量硬涂层厚度

• 我们探头设计可排除98％背面反射,当镜片比1.5mm 更厚时, 可排除比例更高

• 修正了硬膜层造成的局部反射扭曲现象