碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统 参考价：面议
碳化硅衬底检测,碳化硅成像检测,碳化硅衬底位错缺陷光学无损检测系统：最高检测速度：＜17min/片（6“）；BPD、TSD、TED分类识别。
高速探测器 参考价：面议
高速线阵CMOS探测,高速探测器类型：宽谱响应高速近红外探测器、宽谱响应高速可见探测器、高灵敏高速可见探测器等。
超快瞬态吸收光谱系统 参考价：面议
超快瞬态吸收显微成像,超快瞬态吸收光谱系统-TA100自动化系统：全自动光路切换、自动化光路校准；软件：数据采集、数据分析拟合等。
闪光光解系统 参考价：面议
闪光光解系统LFP100：OPO波长调谐范围：210-350nm/420-700nm/720-2300nm。
超快泵浦探测阴影成像系统 参考价：面议
超快阴影泵浦探测,飞秒阴影泵浦探测,超快泵浦探测阴影成像系统UPSI100主要利用调节pump和probe光之间的光程差来进行测试。首先激光打在样品上，样品表面...
超快时间分辨太赫兹光谱系统 参考价：面议
飞秒荧光,飞秒时间分辨太赫兹光谱,时间分辨荧光光谱,超快时间分辨太赫兹光谱系统THZ100自动化系统：全自动光路切换、自动化光路校准；充氮样品仓：支持溶液、薄膜...
稳态/瞬态荧光光谱系统 参考价：面议
稳态/瞬态荧光光谱系统TPL300成像模块功能：荧光强度/寿命/光谱成像、载流子迁移成像、光电流成像。
深紫外荧光系统 参考价：面议
深紫外荧光系统成像功能：荧光强度或光谱成像/荧光寿命成像/深紫外成像；激发波长：206nm/257nm/343nm/515nm。
多功能激光扫描共聚焦荧光成像系统 参考价：面议
多功能激光扫描共聚焦荧光成像系统-FLIM300荧光强度、寿命成像、载流子迁移成像、荧光/拉曼光谱采集、光电流成像、电致发光成像。
超快荧光光谱系统 参考价：面议
超快荧光,荧光光谱仪,超快荧光光谱系统-UF100软件：数据采集/分析软件，微区检测模块：空间分辨率≤500nm。
Z扫描测试系统-ZTS100 参考价：面议
Z扫描测试系统-ZTS100抖动消除：参比双通道信号同时采集；功率检测范围：50 nW-40 mW。
非线性SHG测试系统 参考价：面议
SHG100非线性SHG测试系统电控位移台：行程范围20x20mm。支持同步触发扫描，用于SHG成像。
大能量DPSS Nd:YAG纳秒脉冲激光器 参考价：面议
大能量激光器,纳秒激光器,激光器品牌,大能量DPSS Nd:YAG纳秒脉冲激光器是二极管泵浦Nd:YAG纳秒脉冲激光器，具有输出能量高、频率高、光斑质量好、智能...
高能高频DPSS连续可调谐纳秒激光器 参考价：面议
高能高频DPSS连续可调谐纳秒激光器以其高能量输出、高频重复率、波长可调谐性、光束质量好、可靠性高、易于集成和环保节能等特点，成为许多领域中的理想选择。
SiC晶圆质量成像检测系统 参考价：面议
碳化硅成像检测,SiC晶圆质量成像检测系统：晶圆衬底质量（载流子寿命）高速成像，快速筛查外延片晶格质量。
钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统 参考价：面议
钙钛矿太阳能电池综合性检测分析系统检测时间＜10 min（10cm*10cm） 空间分辨率20 μm/100μm。
MICRO LED晶圆级综合检测系统 参考价：面议
MICRO LED晶圆级综合检测系统明场/PL检测类型：明场缺陷分析、电极缺陷分析、PL缺陷分析。
电激发纳秒瞬态吸收光谱系统 参考价：面议
电激发纳秒瞬态吸收光谱系统采用电控延迟系统和独立超连续白光光源，用于检测样品在亚纳秒到毫秒尺度的光/电诱导动力学演化过程。
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