自动表面分析和多功能的 X 射线光电子能谱仪

Thermo Scientific Nexsa G2 X 射线光电子能谱仪(XPS)系统可进行全自动、高通量的表面分析，提供用于推进研发或解决生产问题的数据。 集成 XPS 与离子散射谱(ISS)、紫外光电子能谱 (UPS)、反射电子能量损失谱(REELS)和拉曼光谱，让您进行真正的联用分析。该系统现包含样品加热和样品加偏压功能选项，拓宽可进行的实验范围。Nexsa G2 表面分析系统发掘了材料科学、微电子、纳米技术开发和许多其他应用领域的潜力。

Nexsa G2 表面分析系统主要特点

高性能   X 射线源

全新的低功率 X 射线单色器，允许以 5µm为间隔、选择10µm 到 400µm 之间的分析面积，确保从感兴趣的特征区域收集数据，同时使信号。

样品视图

使用Nexsa XPS 的光学观察系统和 SnapMap 功能聚焦样品特征区域，有助于快速定位感兴趣的区域。

深度剖析

利用标准离子源或 MAGCIS（可选的双模式单原子和气体团簇离子源）获取表面之下的信息；离子源的自动校准和气体团簇的处理确保了的性能和实验的可重复性。

数码控制

仪器控制、数据处理和报告均由基于 Windows 的 Avantage 数据系统控制。

优异的电子光学系统

高效的电子透镜、半球形分析器和检测器使其具有的检测能力和快速的数据采集能力。

绝缘样品分析

双束中和源：既能出射低能离子，又能出射低能电子(小于1 eV)。在测试中能够对样品，特别是绝缘样品，进行很好的中和，令数据分析简单而可靠。

NX 样品加热器模块

全软件控制的样品加热功能选项，支持温度相关研究。