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产地类别 | 国产 | 价格区间 | 面议 |
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应用领域 | 化工,能源,电子/电池,公安/司法,制药/生物制药 |
泽攸科技台阶仪JS100B
产品介绍
泽攸科技半自动台阶仪JS100B是高精度测量设备,打破了国外技术垄断,适用于半导体制造中的国产化进程。该设备采用一体花岗岩结构,确保测量的稳定性与可靠性。配备两个彩色摄像头,可无畸变地观察样品和针尖,实现特征区域精确定位。JS100B具备厚度、粗糙度、翘曲度及薄膜应力测量功能,并支持3D扫描成像和多点扫描应用,广泛应用于刻蚀、沉积、薄膜等领域。
刻蚀、沉积和薄膜等厚度测量
薄膜多晶硅等粗糙度、翘曲度等材料表面参数测量
各式薄膜应力测量
3D扫描成像
计划任务和多点扫描
应用领域
产品组成
突破三大核心技术
产品特色
关键技术指标
案例应用
18nm样品
68um样品