双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS 参考价：面议
双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS，设计减去了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。
应力双折射 参考价：面议
Hinds Instruments 的ExicorOIA 是透镜、平行面光学、曲面光学在正常和斜入角度评估的主要应力双折射测量系统。该系统是建立在Hinds l...
美国Hinds Instruments 参考价：面议
美国Hinds Instruments 的Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术，具生产价值的测量双折射的能力...
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