质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪，是一款高精度、高重复性的机械接触式精密测厚仪，专业适用于量程范围内的薄膜、薄片、纸张、瓦楞纸板、纺织材料、非织造布、固体绝缘材料等各种材料的厚度精密测量。

　　质子交换膜的厚度直接影响其性能和寿命，因此需要精准的厚度数据作为研发参考，并确保膜材料具有良好的厚度均匀性。

　　根据GB/T 20042.3-2022规定，厚度均匀性测试选用具有代表性的、无折皱、缺陷、破损的样品制为有效面积至少100cm2的圆形或者方形样品。利用精度不低于0.1μm的接触式测厚仪测试至少30个均匀分布点位的厚度值。连续测试3片样品，自动测得样品的平均厚度值，由此计算厚度极差、厚度相对偏差等值，来表征样品的厚度均匀性。

　　需要重点注意的是，质子交换膜对压力敏感度高，因此标准强调，为了避免测量头接触试样导致试样变形，测试过程中测量头施加在样品表面的强度在0.7 N/cm2 ~2 N/cm2。

　　质子交换膜厚度均匀性测试仪_薄膜测厚仪更多更深入的技术探讨，我们（Labthink兰光）期待与各行业中的企事业单位增进更多的技术交流与合作。

测试原理：将预先处理好的薄型试样的一面置于下测量面上，与下测量面平行且中心对齐的上测量面，以一定的压力，落到薄型试样的另一面上，同测量头一体的传感器自动检测出上下测量面之间的距离，即为薄型试样的厚度。

执行标准：ISO 4593、ISO 534、ASTM D6988、ASTM F2251、GB/T 6672、GB/T 451.3、TAPPI T411、BS 2782-6、DIN 53370、ISO 3034、ISO 12625-3、ISO 5084、ASTM D374、ASTM D1777、ASTM D3652、GB/T 6547、GB/T 24218.2、FEFCO No 3、EN 1942、JIS K6250、JIS K6783、JIS Z1702

中国《药品生产质量管理规范》（GMP）对软件的有关要求（可选配置）

应用材料：

基础应用：

薄膜、薄片——各种塑料薄膜、薄片、隔膜等的厚度测定

纸——各种纸张、纸板、复合纸板等的厚度测定

扩展应用：

金属片、硅片——硅片、箔片、各种金属片等的厚度测定

瓦楞纸板——瓦楞纸板的厚度测定

纺织材料——各类纺织材料如编织织物、针织物、涂层织物等的厚度测定

非织造布——各类非织造布如尿不湿、卫生巾等的厚度测定

其它材料——固体电绝缘材料、胶黏带、土工合成材料、橡胶等的厚度测定