非饱和高压试验箱 汽车电子 HAST 测试箱
| 参考价 | ? 22000 |
| 订货量 | ≥1台 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 东莞市皓天试验设备有限公司
- 品牌 皓天鑫
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/7/14 10:33:05
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| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 电子/电池,航空航天,汽车及零部件 |
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非饱和高压试验箱 汽车电子 HAST 测试箱
HAST 非饱和高压试验箱的核心突破在于 “非饱和湿度控制”，区别于传统饱和模式易产生冷凝水的缺陷，其技术设计直击精密电子元件的测试痛点：
核心参数控制能力
温度范围覆盖 105℃-145℃（高温段）、85℃-125℃（中温段），压力控制 0-3bar（压力），湿度精准维持 30%-95% RH（非饱和状态，偏差 ±3% RH）。采用 “干湿球法 + PID 智能算法”，通过独立湿度发生器与压力平衡系统，避免样品表面产生冷凝水，解决传统饱和 HAST 对怕水元件（如 PCB 板、芯片封装）的测试局限。
非饱和模式的技术优势
传统饱和 HAST 中，湿度接近 上限 RH 时易形成冷凝水，导致样品短路或测试数据失真。非饱和模式通过精确控制湿度梯度（如 50% RH@132℃），真实模拟高海拔、热带高压等环境下的 “干燥高温高压” 工况，尤其适合半导体芯片、LED 驱动电源等对水分敏感的器件测试。其温度波动≤±0.5℃，压力偏差≤±0.02bar，确保测试条件稳定可控。
非饱和高压试验箱 汽车电子 HAST 测试箱
结构与安全设计
腔体采用 316L 不锈钢一体焊接（抗腐蚀、耐高压），容积从 50L（实验室小型）到 500L（量产测试）可选，配备分层搁板（承重 50kg / 层）实现多样品同步测试。安全系统包含超温报警（±5℃偏差触发）、压力自动卸荷阀、防爆观察窗（耐 10bar 瞬时压力），符合 IEC 61010-1 电气安全标准，保障操作人员与样品安全。
智能控制系统
7 英寸触控屏支持 100 组程序存储（每组 99 段步骤），可预设 “温度 - 压力 - 湿度” 联动曲线（如 121℃/1.2bar/60% RH 维持 100 小时）。配备 RS485/USB 接口，数据采集频率 1 次 / 秒，支持 Excel 格式导出与 PDF 报告自动生成，高配机型可接入实验室管理系统（LIMS）实现远程监控。
半导体与集成电路
针对 IC 芯片、晶圆、传感器，按照 IEC 60068-2-66 标准进行高压加速应力测试，模拟 5-10 年的自然老化过程。通过 132℃/2.1bar/50% RH 环境，加速检测芯片封装缺陷（如微裂纹、密封不良）导致的性能衰减。某晶圆厂引入设备后，将芯片早期失效率检测周期从 1000 小时缩短至 200 小时，研发效率提升 5 倍。
采购中心
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