非饱和高压试验箱 IC 芯片 HAST 测试设备
| 参考价 | ? 22000 |
| 订货量 | ≥1台 |
具体成交价以合同协议为准
- 公司名称 东莞市皓天试验设备有限公司
- 品牌 皓天鑫
- 型号
- 产地
- 厂商性质 生产厂家
- 更新时间 2025/7/11 9:16:21
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| 产地类别 | 国产 | 应用领域 | 电子/电池 |
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非饱和高压试验箱 IC 芯片 HAST 测试设备
非饱和高压试验箱的核心优势在于 “非饱和环境” 的稳定维持 —— 通过的干湿分离控湿技术，在高压密闭空间内将相对湿度控制在 10%~50% RH（无凝结水），避免传统饱和高压试验箱因水汽凝结对敏感样品（如半导体芯片、精密电路）造成的二次损伤。其技术原理基于 “高压加速老化（HAST）” 理论，通过提升温度与压力，将自然环境下数年的老化过程压缩至数天内完成，测试效率较常规湿热试验箱提升 30 倍以上。
非饱和高压试验箱 IC 芯片 HAST 测试设备
设备采用模块化结构设计，关键组成包括：
核心腔体：采用钛合金内胆（耐高压腐蚀，使用寿命≥10 万小时），容积可选 50L~500L，支持多样品分层放置（承载 50kg）；
环境控制系统：进口 PID 温控模块（控温精度 ±0.5℃）、高压气泵（压力控制精度 ±0.01MPa）、高频超声加湿器（湿度波动≤3% RH），协同维持非饱和环境稳定；
监测系统：内置光纤传感器（抗电磁干扰），实时采集腔体内温湿度、压力数据，采样频率达 10 次 / 秒；
安全系统：超压自动泄压阀（响应时间＜0.1 秒）、高温预警、漏电保护，符合 ASME BPVC 安全标准。
半导体与电子元件
针对芯片封装、PCB 板、连接器等，模拟热带高压低湿环境（如 121℃、1.0MPa、30% RH），测试焊点可靠性、封装密封性及绝缘电阻变化。某芯片厂商通过测试发现，某批次产品在 1000 小时试验后引脚腐蚀率下降 72%，成功解决海外热带市场的退货问题。
非饱和环境精准控制
采用 “露点温差补偿技术”，在 1.0MPa 高压下仍能将湿度稳定在 10%~50% RH（波动≤±2%），避免水汽凝结对电子元件的短路风险。对比传统饱和试验箱，对敏感样品的测试准确性提升 40%。
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