MKW-3000 磁学测量系统

全新一代磁学测量系统

2013 年 3 月makeway 公司在美国物理协会年会上，发布了全新设计的磁学测量系统：MPMS3系统。该系统仍旧基于SQUID探测技术，但不是MPMS(SQUID)XL系列和SQUID-VSM系统的简单升。MPMS3系统是makeway公司潜心开发多年的结晶，在该产品上集成了大量的全新技术。

对比于MPMS XL和SQUID-VSM磁学测量系统，MPMS3将二者的优点进行了融合。MPMS3系统外观虽然与SQUID-VSM相似，但系统进行了重新设计，同时具备了SQUID-VSM的高速高精度测量，以及MPMS XL的DC测量模式、Raw Data功能和Point- to-Point测量功能。系统带有全新的DC Scan测量模式，VSM测量模式以及交流测量模式可供用户选择，大程度的满足用户的测量要求。MPMS XL用户和SQUID-VSM用户将会非常容易的上手使用MPMS3。另外对于SQUID-VSM用户，我们也提供了升方案，用户可将SQUID-VSM系统升至MPMS3系统。

MPMS3系统带有的新式无液氦Evercool选件，可实现全氦气启动和运行，摆脱对液氦的依赖。

全新一代磁学测量系统

MPMS广泛分布于世界上几乎所有相关的前沿实验室，在学术界具有良好口碑。MPMS系统由一个基系统和各种拓展功能选件构成。基系统同时提供变磁场测量环境和变温度场测量环境，拓展功能选件包括各种全自动磁学测量功能选件，如AC磁化率测量系统选件（进行交流磁化率的测量，频率0.1Hz - 1kHz，磁矩灵敏度≤ 5×10-8 emu （typical））、高温炉选件（把仪器高可测量温度拓展到1000K）、超低磁场选件以及磁场重置选件（用于退磁可获取达0.005G的超低磁场）。而且MPMS带有液氦自循环系统，能够全自动实现液氦的循环利用，地方便了获取液氦不方便、或者液氦价格昂贵的地区用户。

所包含的领域有物理、材料、化学、生物、地质等学科。所能研究测量的材料涵盖金属、陶瓷、半导体、超导体、磁性材料、合金材料、有机材料、介电材料和高分子材料等等。材料的形式可以是：块材、薄膜、粉末、液体、单晶及纳米材料。

MPMS3全新技术

1) RapidTemp-快速温控技术

系统从300K匀速降至10K仅需15分钟，从10K稳定到1.8K也仅需5分钟

2) QuickSwitch-超导开关技术

超导开关在超导态和正常态之间的转换仅需要1秒钟时间

3) FastLab-快速数据采集技术

系统的超导磁体允许700Oe/s的励磁速度，在零场下仅需4秒数据平均时间(data average time)，系统便能达到1x10-8emu的测量精度；并且系统允许用户在扫场模式下进行高精度的测量。

5K温度下铁磁薄膜MH曲线

MPMS3 DCScan与MPMS XL对比

MPMS3系统参数:

温度区间：

1.9~400 K 连续控制

降温速度：

30 K/min 300 K>T>10 K

10 K/min 10 K>T>1.8 K

样品腔内径：

9 mm

磁场强度：

±7 T

磁场均匀度：

4 cm 范围内达到 0.01%

励磁速度：

4 - 700 Oe/s

样品振动范围：

0.1-8 mm (峰值)

测量磁矩：

2 emu（DC Scan）；

>100 emu（VSM）

测量灵敏度：

≤2500 Oe：

≤5×10-8 emu（DC scan）

≤1×10-8 emu（VSM）

>2500 Oe:

≤6×10-7 emu（DC scan）

≤8×10-8 emu（VSM）

MPMS选件

MPMS3 Evercool选件(氦气启动和运行，无需液氦)介绍(点击打开)

MPMS3 OVEN选件(可将测量温区拓展1000K)介绍(点击打开)

MPMS3 AC Susceptibility Measurement选件介绍(点击打开)

MPMS3 Ultra-Low Field Capability (ULF)选件介绍(点击打开)

MPMS3水平旋转杆、磁光测量和电学测量选件介绍(点击打开)

MPMS3 iQuantum He3选件(点击打开)

MPMS测试数据

高温直流、交流磁化率测量数据

镍材料高温直流、交流磁化率测量数据

磁化率测试数据

由哈维·穆德学院教授Professor Eckert提供的铁磁薄膜在较弱磁场下的磁矩测量数据，展现了MPMS3对小磁矩样品测量的精准性

磁化率DC模式测试数据

相对于MPMS XL而言，MPMS3系统使用的DC测量模式的测量效率得到了质的飞跃。

磁场扫场速率测试数据

相对于MPMS XL系统，MPMS3的扫场速率大幅提升。

光磁测量选件测试数据

场冷（100Oe）和零场冷并使用DC模式测量的光磁数据。

水平旋转杆测量选件测试数据

铁磁性薄膜材料±2T磁场下 0-90° 4个不同角度测量得到的MH曲线