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OmniScan X3 64相控阵探伤仪

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上海博韬智造无损检测技术有限公司是专业的工业检测仪器销售公司和无损检测方案供应商,目前销售产品主要涵盖:工业内窥镜(RVI)、无损检测(NDT)产品(测厚仪、超声波探伤仪、涡流探伤仪、相控阵TOFD)、JSR脉冲发生器、OKOS采集卡 、光谱仪、热补仪、热像仪,以及自主研发的定制化产品(风电叶片相控阵自动扫查系统、手持式单轴编码扫查器、链式扫查器、小管径扫查器)等产品。在多年的销售活动中,我公司与厂家和客户始终保持良好的关系,在业界积累了很好的信誉和口碑。产品在航空、航天、石油、化工、电力、高校、研究院、钢铁冶金、汽车制造、新能源、轨道交通等行业过千家单位得到了广泛的应用。

工业内窥镜(RVI)、无损检测(NDT)产品(测厚仪、超声波探伤仪、涡流探伤仪、相控阵TOFD)、光谱仪、热像仪、热补仪,以及自主研发的定制化产品(风电叶片相控阵自动扫查系统、手持式单轴编码扫查器、链式扫查器、小管径扫查器)等。

产地类别 进口 价格区间 面议
仪器种类 数字式 应用领域 道路/轨道/船舶,钢铁/金属,航空航天,汽车及零部件,综合

提供高级功能的OmniScan X3 64相控阵和TFM探伤仪
威力强大,小巧便携

OmniScan X3 64相控阵探伤仪沿用了已经现场验证、坚固耐用、轻盈便携的OmniScan X3外壳,其强大的聚焦功能得到了更大的晶片孔径容量的支持,可使您充分利用64晶片相控阵探头,进行128晶片孔径的TFM检测。 您可以利用这款仪器的增强性能,迎接检测较厚、衰减性较强材料的挑战,并提升您的潜力,为更广泛的应用开发新程序。

受益于64晶片脉冲发生器相控阵技术

使用OmniScan X3 64探伤仪可以充分发挥64晶片相控阵探头的潜力,提高焦点处的分辨率。

向左滑动:OmniScan X3 64探伤仪使用一个全部64晶片孔径(5L64-A32探头)获得的图像,在焦点处提供了更好的PA分辨率,可使您更轻松地分辨出靠在一起或聚集成簇的缺陷指示。

OmniScan X3 64相控阵探伤仪



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