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千野（CHINO）光纤式红外线红外温度仪（以下简称“本仪器”）是由株式会社千野在累积七十余年辐射测温经验基础上，面向现代工业高温、强电磁、防爆及空间受限等复杂工况而研制的非接触式温度测量系统。其产品架构、技术特征与应用规范，可系统阐述如下：
一、产品定义与系列归属
本仪器属于千野 IR-FA 系列“光纤透射式辐射温度计”（Fiber Optic Radiation Thermometer）。它通过前端小型光学探头（φ10 mm 左右）采集被测对象在 0.85 μm～1.55 μm 波段内的红外辐射能量，经低损耗石英光纤传导至主机内的光电检测元件（Si 或 InGaAs）完成光电转换、线性化及温度计算，最终以模拟量、数字量或现场总线形式对外输出实测温度值。
依据检测元件及波长的不同，IR-FA 系列细分为：
• IR-FAS：400 ℃～3000 ℃，Si 元件，0.9 μm，响应 10 ms；
• IR-FAI：150 ℃～1600 ℃，InGaAs 元件，1.55 μm，响应 10 ms；
• IR-FAQ：300 ℃～3000 ℃，Si/InGaAs 复合，0.85–1.55 μm，响应 40 ms。
本仪器属于千野 IR-FA 系列“光纤透射式辐射温度计”（Fiber Optic Radiation Thermometer）。它通过前端小型光学探头（φ10 mm 左右）采集被测对象在 0.85 μm～1.55 μm 波段内的红外辐射能量，经低损耗石英光纤传导至主机内的光电检测元件（Si 或 InGaAs）完成光电转换、线性化及温度计算，最终以模拟量、数字量或现场总线形式对外输出实测温度值。
依据检测元件及波长的不同，IR-FA 系列细分为：
• IR-FAS：400 ℃～3000 ℃，Si 元件，0.9 μm，响应 10 ms；
• IR-FAI：150 ℃～1600 ℃，InGaAs 元件，1.55 μm，响应 10 ms；
• IR-FAQ：300 ℃～3000 ℃，Si/InGaAs 复合，0.85–1.55 μm，响应 40 ms。
二、核心架构与工作原理
- 光学探头：采用耐温 150 ℃ 的不锈钢外壳，内置微型透镜组，数值孔径经优化以兼顾集光效率与景深；可选激光瞄准附件，实现测量点可视化。
- 光纤组件：使用多模石英光纤，标准长度 3 m（可扩展至 20 m），护套为金属波纹管或 PTFE 编织层，具备耐弯折、耐腐蚀及 EMI 免疫特性。
- 主机单元：盒式结构，内部包含带温控的检测器、24-bit ADC、DSP 及通信接口。主机环境工作温度 0～50 ℃，通过空气自然对流或附加散热片即可长期稳定运行。
- 信号处理：采用“金属-碳共晶定点溯源”算法，对探测器非线性、发射率变化及光纤衰减进行实时补偿，保证全量程准确度 ≤ ±0.5 %·rdg 或 ±2 ℃（取大者）
三、技术特点
- 无需水冷：光纤及探头在 150 ℃ 环境可直接连续工作，省去传统红外测温必须配置的水冷套或涡流制冷器，显著降低系统复杂度与能耗。
- 电磁免疫与防爆：光纤为非导电介质，可在高频感应加热、强磁场或 Zone2 防爆区安全使用；主机可置于安全区，满足 IECEx 及 ATEX 认证要求。
- 狭小空间适应性：探头外径最小可达 φ6 mm，配合柔性光纤，可深入炉壁小孔、晶体生长腔体或拉丝模内部进行精准测温。
- 高速响应：最快响应时间 10 ms，满足快速热处理、激光焊接、粉末烧结等瞬态过程的温度闭环控制需求。
- 多输出接口：标配 4–20 mA / 0–10 V 模拟量、RS-485（Modbus-RTU）及 Ethernet（Modbus-TCP），可无缝接入 DCS、PLC 或 MES 系统。
四、典型应用领域
• 钢铁冶金：高炉风口、连铸坯表面、热轧带钢；
• 有色金属：铝电解槽、铜冶炼炉、钛合金真空熔炼；
• 半导体与光伏：Czochralski 单晶炉、MOCVD 反应腔、PECVD 石墨舟；
• 玻璃与陶瓷：浮法锡槽、钢化炉、光纤预制棒拉丝；
• 科研实验：等离子体、激光材料加工、燃烧诊断。
• 钢铁冶金：高炉风口、连铸坯表面、热轧带钢；
• 有色金属：铝电解槽、铜冶炼炉、钛合金真空熔炼；
• 半导体与光伏：Czochralski 单晶炉、MOCVD 反应腔、PECVD 石墨舟；
• 玻璃与陶瓷：浮法锡槽、钢化炉、光纤预制棒拉丝；
• 科研实验：等离子体、激光材料加工、燃烧诊断。
五、安装与使用规范
- 瞄准：利用激光瞄准附件或取景器，使探头光轴垂直于被测表面；若无法垂直，需按 cosθ 修正发射率设置。
- 发射率设定：仪器支持 0.10～1.00 可调，可通过现场比对（接触式或金点法）标定，亦可调用内置材料数据库。
- 光纤布线：弯曲半径 ≥ 50 mm，避免锐角弯折；穿越高温区时需外加陶瓷纤维套管。
- 维护：探头窗口每月用无水乙醇擦拭一次；主机滤网半年清洁一次；校准周期建议 12 个月一次，可在千野授权实验室完成。
六、符合标准与质量保证
本仪器设计、制造及检验符合以下标准：
• IEC 60529 IP65（主机）；
• IEC 61326-1 EMC 工业级；
• IECEx Ex ia IIC T4 Ga（防爆型）；
• JJG 856-2015《工作用辐射温度计》国家计量检定规程。
千野通过 ISO 9001 与 ISO/IEC 17025 质量管理体系，对每台仪器实施温漂、长期稳定性及冲击振动测试，出厂附带可追溯至国家基准的校准证书。
本仪器设计、制造及检验符合以下标准：
• IEC 60529 IP65（主机）；
• IEC 61326-1 EMC 工业级；
• IECEx Ex ia IIC T4 Ga（防爆型）；
• JJG 856-2015《工作用辐射温度计》国家计量检定规程。
千野通过 ISO 9001 与 ISO/IEC 17025 质量管理体系，对每台仪器实施温漂、长期稳定性及冲击振动测试，出厂附带可追溯至国家基准的校准证书。
综上所述，千野光纤式红外线红外温度仪通过“前端光学探头—石英光纤—主机信号处理”的模块化设计，实现了在高温、强电磁干扰、防爆及空间受限等环境下的高精度、高响应、免维护的非接触温度测量，是现代工业过程控制与科研实验温度监测的理想解决方案。
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