泰勒CCI MP 小尺寸自动光学轮廓仪信息

泰勒CCI MP 小尺寸自动光学轮廓仪信息

高精度与高分辨率

垂直测量精度高，<0.2 埃 RMS 重复性、<0.1% 台阶高度可重复性，且在全量程内保持 0.1 埃分辨率，能捕捉到纳米级甚至更小的表面细节，适用于精密制造（如半导体、光学元件）的表面粗糙度、台阶高度等关键参数检测。

配备 1048 x 1048 像素阵列，实现高分辨率与大视场的结合，可同时获取大范围区域的精细表面数据，减少拼接次数，提升效率。

宽测量范围与灵活拼接

垂直测量范围达 2.2 毫米，满足不同厚度、台阶的测量需求；通过改进的 X、Y、Z 轴拼接技术，测量范围可扩展至 100 毫米，能应对大尺寸工件（如平板显示面板、航空航天部件）的全域表面分析。

可靠的测量稳定性

角度灵敏度提升，减少环境干扰（如振动、温度波动）导致的测量不确定性，数据质量更稳定；FEA（有限元分析）优化的机械设计，确保设备具有出色的重复性与再现性（R&R），满足工业质量控制的严格要求。

设备设计与成本优势

耐用性与低成本维护

采用无压电式 Z 轴扫描仪设计（此处描述与前文 “带闭环压电 Z 轴扫描仪” 可能存在表述差异，需以实际设备为准），若为无压电设计，则可避免压电元件的老化、损耗问题，大幅降低昂贵的维修费用，适合长期高频使用场景。

坚固的结构设计结合自动表面检测功能，能防止镜头与工件碰撞损坏，延长设备使用寿命。

合规性与标准化

依据 ISO 标准进行校准，测量结果具有威性和通用性，可被行业内广泛认可，适用于国际贸易、合作研究等需要统一标准的场景。

易用性与智能化功能

操作便捷与低误操作风险

配备内置自我诊断工具，便于快速排查故障，减少停机时间；操作流程简化，结合 Windows 7 64 位系统，降低操作人员误操作概率，即使是新手也能快速上手。

多语言支持与兼容性

支持中文、日文等多语言，适配不同地区用户；与多数 PC 平台兼容，方便合作研究项目中的数据共享与协同分析。

进阶分析与自动化功能

新增 3D 表面的 4D 分析工具，可追踪表面随时间的变化（如材料老化、磨损过程），适用于长期可靠性测试；支持批量测量数据的自动报告生成，提升质检流程的自动化程度，适合大规模生产的高效质量管控。

适用场景

该设备可广泛应用于半导体制造、光学元件加工、精密机械、航空航天等领域，尤其适合对表面质量要求高的场景，既能满足实验室级别的科研分析，也能适配工厂生产线的批量质检需求，兼顾高精度与成本效益。