可视化晶体板内部条纹检测技术
一种在监视器上目视观察光学元件光学不均匀性的装置
该检查装置是一种可视化晶体板和玻璃等透明物体内部的条纹,以及表面上的抛光不均匀和抛光痕迹的装置。非常适合检查低通滤光片和蓝色滤光片的晶体板。
在观察到的图像的背景中有一个微弱的斑点图案。这是由于安装的透镜等光学元件的表面抛光,并干扰观察。专用软件“ClearBack”使背景清晰,便于检查。在折射率变化的可视化装置中有一种称为纹影法的观察方法,但该装置的观察方法是阴影图法。避免刀口干扰造成图像模糊。
检查方法 | shadowgraph 方法,顾名思义,就是一个“阴影图片”。从点光源发出的光被一个镜头准直,被下一个镜头会聚,然后被拍摄。这里,如果在两个透镜之间放置有条纹等缺陷的样品,平行光会受到干扰,图像会出现亮度不均匀的区域。 |
---|---|
观察范围 | 约φ45mm |
光源 | 高亮度蓝色LED |
测量波长 | 450-465nm |
有效像素 | 1080(H)×824(V) |
调光功能 | 音量调光 |
外形尺寸(本体) | 水平(标准)W1030 x D160 x H205mm 垂直(可选)W380 x D455 x H1245mm |
重量(身体) | 29公斤 |
宪法 | 机身/PC/电缆 |
配件 | 样品架/机身盖 |
选项 | 立式支架(重量:10kg) |
使用环境 | 10 至 35 摄氏度 湿度 20 至 80%(非冷凝) |
显示器最大分辨率 | 1920 x 1200(24 英寸宽) |
操作系统 | 视窗 10(64 位) |
软件 | 专用软件“ClearBack” 通过校正不均匀的图像亮度,使背景均匀,便于检查缺陷。 |
相关产品
免责声明
- 凡本网注明“来源:Ky开元集团”的所有作品,均为浙江兴旺宝明通网络有限公司-Ky开元集团合法拥有版权或有权使用的作品,未经本网授权不得转载、摘编或利用其它方式使用上述作品。已经本网授权使用作品的,应在授权范围内使用,并注明“来源:Ky开元集团”。违反上述声明者,本网将追究其相关法律责任。
- 本网转载并注明自其他来源(非Ky开元集团)的作品,目的在于传递更多信息,并不代表本网赞同其观点和对其真实性负责,不承担此类作品侵权行为的直接责任及连带责任。其他媒体、网站或个人从本网转载时,必须保留本网注明的作品第一来源,并自负版权等法律责任。
- 如涉及作品内容、版权等问题,请在作品发表之日起一周内与本网联系,否则视为放弃相关权利。