仪景通EVIDENT相控阵探伤仪OmniScan X4
OmniScan X4多技术系列仪器是一种功能强大的便携式解决方案，其高速度和多功能性可提升您的工作效率，
同时增强您对评估工作的信心。利用其高级相控阵功能、高效的全聚焦方式（TFM） 和创新型相位相干成像
（PCI）技术，可以探测和解读具有挑战性的缺陷，并通过更早地识别损伤来确保资产的完整性。
仪景通EVIDENT相控阵探伤仪OmniScan X4
值得信赖
每台OmniScan X4仪器堪称一个无所不包的多技术检测工具箱，可使您利用多种超声检测技术。利用其检测和测量功能，
可在损坏变得严重之前准确识别和评估损坏的严重程度，从而保护那些容易出现裂纹或腐蚀的焊缝、部件和资产。
使用PCI进行可靠评估
在探测和突出显示以往难以检测的缺陷时，如钩状裂纹和应力腐蚀开裂（SCC），相位相干成像技术有助于消除疑虑。
使用PCI可以清楚地区分细小裂纹群中的单个缺陷，并可靠地进行表征。
TFM采集率提高了3倍
由于OmniScan X4系列仪器处理能力的提升，获得清晰TFM图像的速度比上一代型号（X3 64）快了三倍。
OmniScan X4 64:128PR仪器拥有128个晶片能力，速度更快，可以利用其扩展的聚焦功能进行TFM检测。
达到这一速度取决于配置和稀疏发射的使用。
获得即时洞察力，消除低效率问题
TFM和PCI双重技术让您信心倍增
采用具有不同特性的PCI和TFM两种技术，同时从焊缝两侧彻查整个焊缝体积。使用两个探头对焊缝进行一次性扫查，
即可显示TFM和PCI结果，以便高效精确地比较、测量和确认缺陷特征。
设计宗旨是提高速度和简化操作
在OmniScan X4系列仪器上可以简单直观地进行相控阵、TOFD、TFM和PCI检测。任何经验水平的检测人员都可以利用
这些技术，通过简单的逐步扫查计划和应用预设，提高效率，增强信心。
便捷的应用预设
OmniScan X4的应用预设，可以改善学习曲线，提高检测在不同操作员之间的可靠性和一致性。即使是低级别用户和
新用户也可以在几分钟内完成优质的PA或PCI配置。
通过腐蚀和复合材料检测选项，这些预编程参数简化了使用HydroFORM、FlexoFORM和RollerFORM扫查器的扫查
设置，而且您还可以根据需要调整设置。
简化了复杂配置
OmniScan X4扫查计划的直观分步3D图形可简化从基本到复杂的各种检测设置。
在设置光栅扫查计划时，可以自行命名扫查轴，还可以创建相对于资产的基准参考点。这些真实世界的参考以及真实
方向的校正，大大地方便了为报告创建直观的检测数据示意图的操作。
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