COMPACT Eco镀层测厚仪_XRF镀层测量-东莞市台淮电子科技有限公司

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COMPACT Eco镀层测厚仪的可选模块：
μ-Master用于镀层测量
Element--Master用于材料分析
%-Master用于材料分析（珠宝）
Report-Master用于微软报告文件
Data-Master用于数据库管理
Liquid-Master用于电镀液分析

COMPACT Eco镀层测厚仪特性：

镀层测厚仪COMPACT系列广泛应用于PCB、LED、SMT、连接器、端子、五金产品、汽车零部件、卫浴洁具、珠宝等行业的表面镀层厚度测量、材料分析及镀液分析；是中、小电镀产品镀层厚度测量的理想检测工具。

COMPACT Eco镀层测厚仪具有，有着非破坏、非接触、多合金测量、测量元素范围广、测量精准、测量时间短等特点；具有高生产力、高再现性，能有效控制产品质量，节约电镀成本。

技术指标：

型号	COMPACT Eco	COMPACT Eco PIN	备注
测量元素范围	Ti22---U92
镀层和成分分析	镀层：zui多同时测定5层（4层镀层+基体材料）成分：zui多同时测量20种元素
测量方法	FP（经验数据法），无需标准样片
X射线激发	50Kv、1.2mA(60W)高压发生器微聚焦W靶X射线管
成像系统	彩色视频系统 20倍放大倍数被测样品图像实时显示功能电脑显示屏具有画中画功能
计算机系统	Inter Pentium G2030，内存2G，硬盘500G 17吋液晶彩色显示器 MicrosoftTM Win7 32bit
样品台规格	240×240mm样品台 zui大承重5Kg
仪器外形	长×宽×高400×600×400mm（不含电脑、显示器）
zui大样品	长×宽×高380×370×100mm
程控Z轴移动距离	≤60mm
主机重量	41Kg（不含电脑、显示器）
单准直器规格	Ø0.3、Ø0.5mm	Ø0.1、Ø0.3、Ø0.4、Ø0.5mm 0.1×0.3mm	仅配单准直器
探测器	正比例计数器	25mm2半导体（Si-PIN）探测器，Peltier电制冷能量分辨率约270eV
软件模块可选	μ-Master用于镀层测量 Element--Master用于材料分析 %-Master用于材料分析（珠宝） Report-Master用于微软报告文件 Data-Master用于数据库管理 Liquid-Master用于电镀液分析
产地	德国