Xi1M 7°x5° CF 紧凑型工业自主短波红外热像仪

紧凑型工业自主短波红外热像仪介绍：

Optris Xi 1M是一款短波红外热像仪，擅长对具有挑战性的物体进行非接触热成像。它能够精确测量热金属、钢铁、陶瓷和半导体的表面温度。凭借自主热测量能力和电动对焦功能，该热像仪在工业环境中提供了可靠性和便利性，无需额外的硬件。它配备了以太网、USB接口以及模拟和数字过程接口，实现了与控制系统和机械设备的无缝集成。

?Optris公司?，全称为Optris GmbH，是一家致力于非接触测温领域技术创新和应用发展的高科技企业。公司成立于2004年，拥有20年的工程经验，熟知红外测温领域的产品销售及技术进步。

产品和服务：

Optris提供多种类型的红外测温产品，包括便携式、在线式红外测温仪和黑体标准源等。其产品测温范围广泛，从-50℃到3300℃。主要应用于设备故障诊断与维护、安全保障、过程控制等领域，帮助用户提高产品质量、生产效率及节约能源?。

市场表现和用户评价：

Optris在市场上具有较高的名度，特别是在非接触温度测量领域。其产品以高性价比著称，并且通过与德国工程师的紧密合作，推出了如Optris MiniSight等紧凑型便携式红外测温仪，具有出色的光学特性?。能够精确测量250°C至2000°C的温度。

紧凑型工业自主短波红外热像仪在非接触热成像领域提供了创新、经济实惠和高精度的性能，专门用于测量具有挑战性的物体表面温度。设计在短波红外范围内工作（波长：0.85-1.1μm），这款前视红外热像仪专为捕捉热钢、铁、黄铜、铜、锡、碳、陶瓷和半导体的精确表面温度分析而设计。为了满足各行业的严格要求，Optris Xi 1M提供了宽广的高温测量范围、准确性和可定制的视场配置。

许多由非光亮材料组成的测量物体在长波红外光谱范围内显示出较高且相对恒定的发射率，而这些材料在长波红外波段的低发射率会导致测量结果的不稳定和不可靠。短波Xi 1M红外热像仪的光谱范围与大多数金属材料的最高发射率相匹配，从而简化了远程温度测量。此外，根据普朗克辐射定律，在短波范围内发射的红外辐射显著增加，因此线性发射率问题对短波温度测量结果的重复性影响较小。因此，在考虑到较高的温度测量范围时，对高温光亮材料的非接触温度测量应尽可能使用短波段。
这些红外热像仪能够自主寻找热热点，增强了在各种监控和检查任务中的实用性和效率。Xi 1M红外热像仪专为这些具有挑战性的工业应用设计和制造，在精度、准确性和重复性方面优于长波红外热像仪。