FLTZ-010W 冷热温度冲击系统覆盖高低温循环场景测试

冷热温度冲击系统覆盖高低温循环场景测试

冷热温度冲击系统覆盖高低温循环场景测试

　　热流罩可以准确控制温度的升降，模拟不同地区、不同季节以及严苛气候条件下的温度变化，检测零部件在不同温度下的性能和可靠性。

　　一、热流罩的核心功能与准确数据获取原理

　　热流罩（Thermal Chamber）通过准确温控、均匀热场分布与多参数集成监测，为材料、电子器件、能源等领域提供可靠的热性能数据，其核心技术支撑包括：

　　1、高精度温控系统：采用PID+模糊控制算法，温度控制精度达±0.1℃，覆盖-55℃~225℃宽温域，满足半导体、电池等材料的严苛条件测试需求。

　　2、均匀热场设计：通过多喷嘴气流循环与辐射加热组合，确保样品表面温差小。

　　3、多参数同步采集：集成温度、湿度、压力、电流/电压传感器，支持热膨胀系数（CTE）、热导率（λ）、热阻（Rth）等参数同步测量。

　　二、准确数据获取的五大技术保障

　　1. 动态温度控制与快速响应

　　制冷源实现30℃/min快速温变，升温/降温延迟。多区独立控温（如双腔体设计），满足复杂样品（如异质结器件）的差异化需求。

　　应用案例：某车载IGBT模块测试中，热流罩以50℃/min速率模拟冲击，捕捉瞬态热应力数据。

　　2. 高灵敏度传感器与校准体系

　　采用薄膜热电偶与红外热像仪组合，覆盖微观至宏观尺度。定期NIST可溯源校准，确保传感器长期稳定性。

　　应用案例：某纳米材料热导率测试中，热流罩通过微区红外测温，准确定位热点，数据重复性高。

　　3. 环境干扰屏蔽与噪声

　　气密腔体与电磁屏蔽设计，减少外界温湿度波动与电磁干扰。主动降噪算法消除风机振动对传感器的影响。

　　应用案例：某量子器件低温测试中，热流罩在-100℃下仍保持控温精度，支持临界温度（Tc）测定。