TSD-150PF-2P 冷热冲击试验箱，适用于电子元件可靠性测试

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产品概述

冷热冲击试验箱是一种用于模拟温度变化环境的测试设备，广泛应用于电子元件、半导体、PCB、汽车电子等领域的可靠性测试。通过快速切换高温和低温环境，检测产品在温度骤变条件下的性能稳定性、材料耐久性及潜在缺陷，确保产品质量符合行业标准。

冷热冲击试验箱，适用于电子元件可靠性测试

主要用途

1. 电子元件测试：评估IC芯片、电阻、电容、连接器等在高低温冲击下的可靠性。

2. 汽车电子测试：验证车规级电子设备（如ECU、传感器）在温度下的工作性能。

3. 航空航天：测试精密仪器、航天电子设备在严苛环境下的适应性。

4. 新能源电池测试：检测锂电池、储能设备在温度突变时的安全性和寿命。

5. 塑料及金属材料测试：分析材料在冷热交替环境下的膨胀、收缩及老化情况。

技术参数

箱体结构与材质

1. 外壳：采用优质冷轧钢板，表面静电喷涂防腐蚀处理，坚固耐用。

2. 内胆：304不锈钢材质，耐高低温、抗腐蚀，适用于长期测试。

3. 保温层：高强度聚氨酯发泡材料，有效减少热量损失，提升能效。

4. 密封系统：硅橡胶密封条+双层钢化玻璃观察窗，确保箱内温度稳定。

5. 样品架：可调节不锈钢样品架，承重能力强，便于不同尺寸样品测试。

温度控制系统

1. 制冷系统：采用法国泰康/德国比泽尔压缩机，环保制冷剂（R404A/R23），高效降温。

2. 加热系统：镍铬合金电加热器，PID智能控温，升温快速稳定。

3. 控制方式：7英寸触摸屏+PLC控制器，支持多段编程、数据存储及USB导出。

4. 安全保护：超温报警、压缩机过载保护、漏电保护、故障自诊断功能。

工作原理

冷热冲击试验箱采用三箱式（预冷区/预热区/测试区）或两箱式（高温箱/低温箱）结构，通过电动吊篮或气缸快速切换测试样品所在温区，实现温度骤变。

1. 高温测试：样品置于高温区（如+150℃），持续设定时间。

2. 快速转换：机械臂将样品迅速移至低温区（如-70℃），模拟冷热冲击。

3. 低温测试：在低温环境下保持设定时间，观察样品性能变化。

4. 循环测试：重复高低温切换，模拟长期温度交变环境，评估产品寿命。

总结

该冷热冲击试验箱具备高精度温控、快速温变、稳定可靠等特点，适用于电子元件的加速老化测试、失效分析及品质验证，帮助企业提升产品可靠性，满足国际检测标准要求。